企业简介

        我们有一支敬业实干的技术型售后服务团队，在华东、华南均有办公室，地址位置优越，以便客户发现问题后快速响应、提供优质服务！

       司逖测量技术（上海）有限公司【Siti Metrology (Shanghai) Co., Ltd】于2016年在中国上海成立，为全球各行企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。为应对公司在中国市场快速增长的需求，我们配备一支敬业实干的技术型售后服务团队，在华东的 上海浦东新区及华南的东莞长安分别设有办公室，以便更好地为中国客户提供优质的售前售后服务！

       公司基于创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器广泛运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，我们的光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。

        我们为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，我们的光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面都可以轻松测量。

什么是光谱共焦？

        光学传感器提供最好的技术以满足非接触尺寸测量最苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理，我们的传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。
        用于工业环境中的设计，STIL传感器的各系列，吸引集成器与测量检测机器轻松连接，这归功于为每台仪器提供的动态链接库（DLL）。

光学原理

        我们的光学传感器基于高度创新的共焦彩色成像原理。入射的白光针孔通过彩色物镜成像为沿Z轴的连续单色图像，从而沿光轴提供“颜色编码”
         反向散射的光束通过过滤针孔进入光谱仪，该光谱仪确定波长已完全聚焦于物体上，然后精确地确定其在测量场的位置。
         共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。

什么是光谱共焦干涉仪？

        非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。
        为不再受此类环境干扰，开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。

光谱共焦干涉测量原理

         干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。
         它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的独创性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。
         此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。最小可测厚度为0.4μm。